電力システムにおいて、開閉装置とは、電気機器の制御、保護、絶縁に使用される電気的な切断スイッチ、ヒューズまたは回路ブレーカーの組み合わせです。開閉装置は、作業を可能にするために機器の通電を解除したり、下流の障害を取り除くために使用されます。
開閉装置試験での測定中、接点は開放(O)され、閉鎖(C)され、再び開放(O)された試験の種類に応じて、これをOCまたはOCO測定と呼びます。
接点の動きは通常、電気信号を使用して制御されます。
これらの信号は、開閉する回路のメカニカルスイッチ内の接点の移動を開始します。
中・低電圧の開閉装置の測定では、接点の正確な位置を登録するための信号が利用できないことが多いため、開閉動作と接点の接触または分離の測定タイミングとの間の時間は、まず無負荷試験で決定されます。
これらの変数は、その後、全負荷(短絡)テストに使用できます。
研究開発および認証プロセスの両方で調和の取れた試験を可能にするため、必要な解析手順はSTL手順に定められています。
Perceptionスイッチギアアプリケーションは、ユーザーにスイッチギアの種類とテストの種類を識別するインターフェースを提供することにより、テスト手順の設定を簡単に行えるようにします。
また、スイッチギアの種類に応じて、単相または三相の選択が可能で、移動信号や開閉信号、さらには一部のSTL計算に必要な適用可能な主電源周波数を使用できます。
対応する回路は、適切なDAQハードウェアチャンネルを簡単に選択して接続できるように示され、必要なテストタイプと機器に関連する変数を選択することによってセットアップが完了します。
選択した構成に基づき、すべての必要な数式や方程式はPerceptionの数式データベースに記録され、ユーザーは使用された計算を確認することができ、テストの透明性、トラブルシューティング、および監査可能性が向上します。
データ表示および結果テーブルは、最も使用される変数で自動的に入力され、簡単に報告できるようになります。また、さらなるアプリケーションや顧客の要求に合わせて適応することができます。
HBK開閉装置試験ソリューションはソフトウェアによって駆動されますが、このアプリケーションでは高電圧と高電流を安全に取得し、試験手順そのものを正しく安全に制御するために、一連の特定のハードウェアが必要です。
Genesis Highspeed DAQハードウェアは、すべての関連データを1つのイベントも見逃すことなく確実にキャプチャします。特に、テスト対象のデバイスに破壊的な影響を与える可能性のあるテストを実行する場合に有効です。
システムは、6600シリーズ光ファイバ絶縁デジタイザと組み合わせることで、オペレータ、機器にとって最大限の安全性を確保し、測定信号の信頼性の高い、騒音のない伝送を実現します。
BE3200試験シーケンサは、低電圧/高電圧および高出力の実験室での試験に使用されるデバイスの正確な動作タイミングを提供する高速コントローラです 。
この目的のために、最大 64個の光絶縁出力 が用意され、広範なインターロッキングと安全特徴があります。BE3200のタイミングパターンは、メイン発振器、外部メインに同期することも、内部タイマーから取得することもできます。出力はプログラムされたシーケンスでオン/オフを切り替え、完全に同期されます。同期信号 は入力信号周波数を追跡する。BE3200のすべての出力と入力は 光ファイバで絶縁されています。
これらすべては、シーケンサー制御専用のPerception項内で設定でき、議論されているスイッチ試験アプリケーションにリンクされています。
遮断器は過負荷や短絡による過剰電流に対する保護が必要な電気回路がある場所ならどこにでも存在します。半導体保護に使われる指の爪ほどの大きさの装置から、都市に電力を供給する高圧回路を保護するために設計されたトラックほどの大きさの装置まで、大きさも容量もさまざまです。