疲労寿命試験：光学式ストレインゲージは、±5,000μm/mで最大1,000万回の負荷サイクルを可能にします。

高ひずみでの疲労寿命試験は、使用する試験機器に非常に大きな要求があります。ここで、従来の電気式ひずみゲージはすぐに限界に達してしまう。静的平均応力が重畳した交番荷重などにより、ひずみゲージが規格外の過大なひずみを受けると、荷重サイクルの増加とともに金属グリッドが損傷し、ひずみゲージの破損に至ることがあります。

このような場合に最適なソリューションを提供するのが、最新世代の光学式ひずみゲージです。HBMのK-OPストレインゲージは、±5,000 µm/mの交互ひずみを伴う連続振動挙動で1,000万回のストレスサイクルを達成します。また、適切な接着剤はHBMから入手することができます。

また、爆発する可能性のある環境下での測定や、大電流・高電圧を扱う部品への測定にも適しています。

HBMの光学式ストレインゲージの 巨大な性能は、 独立した機関での集中的なテストによって確認 されています。

もうひとつのメリット：光学式ひずみゲージ（ ）へのアップグレードは、従来の電気式タイプをお使いの方にとって非常に簡単です。HBMの光学式ストレインゲージの特許取得済みデザインは、ガラス繊維を保護 し、テストセットアップ時の利便性と取り付けの容易性を向上さ せます。

光学式ひずみゲージのさらなる利点 ：1本のガラス繊維に複数のセンサーを使用することができます。これにより、、設置時の出費 を大幅に削減することができます。また、光学式ひずみゲージには、ゲージ率などひずみ測定に必要なデータが記載されたデータシートが付属しています。

測定データの記録 、その後の評価も非常に簡単です。HBMは、ユーザーに必要なすべてのコンポーネントをワンソースで提供します。これらは、 、適切なアクセサリーを備えた 光学式 ストレインゲージから、インテロゲーターやcatman®AP データ収集ソフトウェア（光学式ストレインゲージ用の特別なもの）EasyOpticsモジュールを含む）多岐に渡ります。