疲劳寿命测试：光学应变计允许在±5,000 µm/m的条件下进行多达1000万次的负载循环

高应变下的疲劳寿命测试对所用的测试设备提出了极高的要求。在这里，传统的电子应变片很快就会达到其极限。当应变仪受到超出其规格的过高应变时，例如，由于叠加静态平均应力的交变载荷，金属网格会随着载荷循环次数的增加而损坏，导致应变仪失效。

最新一代的光学应变计在这些情况下提供了最佳解决方案。HBM K-OP 应变片在连续振动行为中达到1000万次应力循环，交变应变为±5,000 µm/m。合适的粘合剂也可以从HBM获得。

光学应变计也适用于在潜在的爆炸性环境中以及在高电流和高电压工程的部件上进行测量。

HBM 的光学应变片的 巨大性能 已经通过独立机构的密集测试得到证实。

另一个好处是：升级到光学应变计 ，对于传统的、电气类型的用户来说是非常容易的。HBM 光学应变片的专利设计保护玻璃纤维 ，并确保在测试设置中增加便利性和易安装 性。

光学应变计的另一个优势 ：一个玻璃纤维中可以使用多个传感器。这大大，减少了安装时的支出 。此外，光学应变计还提供了一份数据表；它包含了应变测量所需的所有数据，如计价器系数等。

测量数据的记录 和后续评估也非常简单。HBM 为用户提供了所有必要的部件，并从一个来源。这些产品包括从光学应变计 和相应的附件到询问器和catman®AP 数据采集软件，其中包括一个用于光学应变计的特殊EasyOptics模块。