C 시리즈 스트레인 게이지는 예외적인 온도 조건에서 구조 테스트를 위한 이상적인 선택입니다. 그들은 엄청난 온도 범위를 가지고 있으며 -269 °C까지 매우 낮은 온도에서도 정확하게 측정합니다. 좋은 기계적 유연성과 측정할 재료에 대한 최적의 적응을 위해 C 시리즈의 측정 그리드는 폴리이미드 필름 위에 크롬-니켈 특수 합금으로 구성되어 있습니다.
C 시리즈의 스트레인 게이지는 매우 좋은 가격-성능 비율로 매우 넓은 온도 범위를 가지고 있습니다. C 시리즈의 스트레인 게이지는 세 가지 다른 기하학적 형태로 제공되며, 연구 및 개발, 자동차 산업, 발전소 및 초전도체 등에서 사용됩니다.
다양한 기하학적 형태와 크기로 스트레인 게이지(SG)를 제공하며, 다음 재료에 맞춘 온도 응답으로 제공됩니다:
온도 일치 코드를 자리 표시자 “x” 대신에 삽입하여 필요한 스트레인 게이지의 주문 번호를 얻으세요.
사용 가능한 스트레인 게이지는 120 및 350 옴입니다.
측정 그리드는 크롬-니켈 특수 합금으로 구성되며, 측정 그리드 캐리어는 폴리미드입니다.
선호하는 스트레인 게이지 유형에 대한 빠른 배송 - 재고에서 제공됩니다!
측정 지점 문서를 최적화하기 위해 각 스트레인 게이지에는 측정 지점과 측정 증폭기 근처에 배치할 수 있는 두 개의 스티커가 포함되어 있습니다. 측정 설정에서 직접 매개변수 정보를 활용하세요:
참고: 새로 생산된 스트레인 게이지는 모두 스티커와 함께 제공되며, 기존 재고 스트레인 게이지에는 이 기능이 포함되지 않습니다.
The quality of a strain gauge installation is not only dependent on the strain gauge itself but also on the type of application and its implementation. A perfectly functioning measuring point requires a thorough preparation of the application surface, careful bonding,
GenHS input boards enable a real-time testing platform within a multi-channel DAQ system, offering versatile GenHS instrumentation with 20 kS/s to 250 MS/s sampling.
